RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1983, том 17, выпуск 6, страницы 1035–1039 (Mi phts2339)

Стохастическая рекомбинационная неустойчивость

К. А. Пирагас


Аннотация: Исследована динамика тока в цепи, состоящей из источника постоянной ЭДС, омического сопротивления и полупроводника, содержащего три типа рекомбинационных центров, коэффициенты захвата на которые зависят от электрического поля. Для случая отталкивающих центров показано, что уравнения, описывающие эту систему, могут иметь странный аттрактор, приводящий к появлению в цепи стохастических автоколебаний.



© МИАН, 2024