RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1983, том 17, выпуск 7, страницы 1322–1324 (Mi phts2415)

Краткие сообщения

Профиль распределения дефектов в ионно-имплантированных кристаллах Hg$_{0.8}$Cd$_{0.2}$Te

Е. В. Гураускас, Ю. Ф. Каваляускас, И. Н. Петров, А. Ю. Шилейка




© МИАН, 2024