Аннотация:
Проведено исследование соотношения между количеством
введенной добавки и числом электронов при
легировании антимонида индия селеном. Путем сопоставления данных по холловской концентрации носителей заряда,
полученных в образцах, прошедших длительную гомогенизацию при определенных
температурах, показано, что заметные отклонения зависимости
${n_{e}\sim f(N_{\text{Se}})}$ от линейного закона связаны с образованием
смешанных твердых растворов Se в InSb типа внедрения и замещения. При
этом селен, попадающий в междоузлия, полимеризуется и оказывается в
электрически неактивном состоянии. Анализ концентрационной зависимости
параметра решетки, измеренного на полученных образцах, позволил высказать
предположение относительно природы изменений электроактивности селена
на различных участках исследованного интервала концентраций.