Высокочастотные голографические дифракционные решетки на поверхности монокристаллов CdS

Исследована зависимость интенсивности дифракционного пучка света от величины плотности пропущенного заряда при фотоэлектрохимической записи дифракционных решеток в широком интервале пространственных частот. Проведено сравнение полученной зависимости оптимальной плотности заряда от пространственной частоты с результатом теоретического расчета. Расхождение экспериментальных и теоретических результатов объясняется влиянием продуктов реакции фоторазложения.