RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1988
, том 22,
выпуск 3,
страницы
536–538
(Mi phts2785)
Краткие сообщения
Исследование влияния глубоких уровней на микроплазменный пробой
$p{-}n$
-переходов
Ю. В. Выжигин
,
Б. Н. Грессеров
,
Н. А. Соболев
Полный текст:
PDF файл (429 kB)
©
МИАН
, 2024