Аннотация:
При наклонном и нормальном падении света исследованы
спектры экситонного отражения структуры с одиночной квантовой ямой
GaAs$-$AlGaAs, выращенной методом молекулярно-пучковой эпитаксии. Анализ
спектра отражения, снятого при углах, близких к скользящему, в
$p$-поляризации позволил надежно определить резонансные частоты,
силы осцилляторов и затухание квазидвумерных экситонов, образованных
с участием тяжелой и легкой дырок. Показано, что измерение формы
дисперсионного контура экситонного отражения при нормальном падении
является чувствительным методом для контроля толщины барьерных
слоев гетероструктуры.