Аннотация:
Рассмотрено поглощение ультразвука в слабо легированных
компенсированных полупроводниках при низких температурах.
Показано, что наряду с прыжковым поглощением заметный вклад могут
давать электроны, локализованные в крупномасштабном потенциальном рельефе.
Проанализированы зависимости указанного вклада от частоты и температуры
в различных предельных случаях; показано, что они существенно отличаются
от соответствующих зависимостей как для поглощения
носителями на уровне протекания, так и для прыжкового поглощения.