RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1986, том 20, выпуск 7, страницы 1239–1242 (Mi phts291)

Исследование протекания тока в субмикронных полупроводниковых структурах при низких температурах

В. А. Беспалов, К. О. Болтарь, В. А. Федирко, Г. Ю. Хренов


Аннотация: Экспериментально исследованы вольтамперные характеристики субмикронных диодных полупроводниковых структур на основе GaAs при температурах ${4.2\div100}$ K. Показано, что режим протекания тока в образцах может рассматриваться как баллистический.

УДК: 621.315.592

Поступила в редакцию: 18.11.1985
Принята в печать: 06.01.1986



© МИАН, 2024