Физика и техника полупроводников,
1988, том 22, выпуск 9,страницы 1666–1671(Mi phts3045)
Структурная релаксация и кристаллизация объемных образцов аморфного
антимонида галлия
С. В. Демишев, Ю. В. Косичкин, В. И. Ларчев, А. Г. Ляпин, С. В. Попова, Г. Г. Скроцкая, Н. Е. Случанко
Аннотация:
По временным и температурным зависимостям
удельного сопротивления у объемных образцов
$\alpha$-GaSb определена
температура кристаллизации ${T_{c}=340}$ K и впервые рассчитана
энергия активации роста кристаллитов ${\Delta E= 116}$ кДж/моль. Проведено
сопоставление полученных результатов с данными дифференциального термического
анализа. Исследованы процессы структурной релаксации; показано, что наряду
со специфическими особенностями релаксация аморфных образцов имеет
общие черты с отжигом дефектов в кристаллическом образце.