Интерфейсная люминесценция гетероструктуры
$n$-GaAs/$n$-GaAlAs, полученной жидкостной эпитаксией
Г. Т. Айтиева,
В. Н. Бессолов,
А. С. Волков,
В. В. Евстропов,
К. В. Киселев,
Г. Г. Кочиев,
А. Л. Липко,
Б. В. Царенков Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе АН СССР, г. Ленинград
Аннотация:
Изложены результаты исследования фотолюминесценции,
обусловленной наличием гетерограницы (интерфейса), в гетероструктурах
$n$-GaAs/$n$-Ga$_{1-x$Al
$_{x}$As} (
${0.015\leqslant x\leqslant0.4}$);
концентрация электронов в GaAs —
$10^{15}\,\text{см}^{-3}$, а в
GaAlAs —
$10^{18}\,\text{см}^{-3}$ (300 K).
Изучалась стационарная и нестационарная фотолюминесценция
при гелиевых температурах.
Спектры интерфейсной фотолюминесценции состоят из двух полос (
$H_{1}$ и
$H_{2}$), расположенных между полосами донорно-акцепторной и экситонной
рекомбинации в GaAs. Максимумы интерфейсных полос с ростом интенсивности
возбуждения
$I$ смещаются в коротковолновую
область, причем полоса
$H_{2}$ смещается сильнее.
В области малых
$I$ в структурах с большим
$x$ интенсивность
$\Phi$
полос
$H_{1}$ и
$H_{2}$ с ростом
$I$ увеличивается сверхлинейно,
а релаксация люминесценции происходит за времена 200
$-$300 нс.
При больших
$I$ зависимость
$\Phi(I)$ становится линейной,
а время релаксации — короче 10 нс.
Сделано заключение, что интерфейсная люминесценция обусловлена
туннельной излучательной рекомбинацией двумерных электронов с дырками,
локализованными на акцепторах (полоса
$H_{1}$), и с дырками в
$v$-зоне,
находящимися в ямах потенциального рельефа
вблизи интерфейса (полоса
$H_{2}$).
УДК:
621.315.592
Поступила в редакцию: 04.03.1986
Принята в печать: 03.04.1986