RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Физика и техника полупроводников
// Архив
Физика и техника полупроводников,
1988
, том 22,
выпуск 9,
страницы
1687–1688
(Mi phts3050)
Краткие сообщения
Исследование теллурида кадмия методом сканирующей спектроскопии глубоких уровней
О. Брайтенштайн
, О. В. Конончук
, Г. Н. Панин
, Й. Хайденрайх
,
Е. Б. Якимов
Полный текст:
PDF файл (1435 kB)
©
МИАН
, 2024