RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1988, том 22, выпуск 9, страницы 1687–1688 (Mi phts3050)

Краткие сообщения

Исследование теллурида кадмия методом сканирующей спектроскопии глубоких уровней

О. Брайтенштайн, О. В. Конончук, Г. Н. Панин, Й. Хайденрайх, Е. Б. Якимов




© МИАН, 2024