Аннотация:
Разработана теоретическая модель метода определения
времени жизни неосновных носителей в полупроводниках при возбуждении
импульсным электронным пучком в растровом электронном микроскопе (РЭМ)
с использованием барьера Шоттки для регистрации сигнала тока, индуцированного
электронным зондом. Метод экспериментально реализован в РЭМ с временны́м
разрешением 50 пс. Приведены результаты определения электрофизических
параметров при исследовании эпитаксиальных слоев GaAs с различной
концентрацией легирующей примеси. Измеренные в эксперименте значения
диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей позволяют
рассчитать коэффициент диффузии и подвижность
в локальной области полупроводника.