RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1988, том 22, выпуск 10, страницы 1803–1807 (Mi phts3077)

Определение времени жизни неосновных носителей в полупроводниках при возбуждении электронным пучком в РЭМ

С. Г. Конников, В. Е. Уманский, В. М. Чистяков, И. И. Лодыженский


Аннотация: Разработана теоретическая модель метода определения времени жизни неосновных носителей в полупроводниках при возбуждении импульсным электронным пучком в растровом электронном микроскопе (РЭМ) с использованием барьера Шоттки для регистрации сигнала тока, индуцированного электронным зондом. Метод экспериментально реализован в РЭМ с временны́м разрешением 50 пс. Приведены результаты определения электрофизических параметров при исследовании эпитаксиальных слоев GaAs с различной концентрацией легирующей примеси. Измеренные в эксперименте значения диффузионной длины и времени жизни неосновных носителей позволяют рассчитать коэффициент диффузии и подвижность в локальной области полупроводника.



© МИАН, 2024