Аннотация:
Исследованы закономерности появления $N$-образного участка
на ВАХ кремниевых $p{-}n$-переходов, помещенных в сильное СВЧ поле,
когда они становятся источниками термоэдс.
Оказалось, что ВАХ становятся $N$-образными уже в относительно
слабых полях, и с ростом СВЧ поля излом на ВАХ происходит
при больших токах и больших ЭДС. Увеличение сопротивления
нагрузки смещает точку излома ВАХ в область меньших токов и больших ЭДС. Предложен механизм возникновения $N$-образности ВАХ, который
состоит в том, что при больших токах приграничная концентрация
инжектированных носителей заряда начинает самопроизвольно нарастать,
что и приводит к уменьшению термоэдс и тока в цепи. Расчет показал,
что такая неустойчивость возникает, когда нагрузочное сопротивление
становится больше дифференциального сопротивления $p{-}n$-перехода.
Результаты расчета
подтверждаются данными экспериментальных исследований.