RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1988, том 22, выпуск 11, страницы 1979–1985 (Mi phts3118)

Влияние локализованных состояний в барьере на флуктуационный туннельный ток через контакт металл–полупроводник

М. Э. Райх, И. М. Рузин, Б. И. Шкловский


Аннотация: Рассмотрено прохождение тока через контакт металл–полупроводник, в котором область объемного заряда является сильно компенсированной. Кроме того, предполагается, что в запрещенной зоне полупроводника имеются локализованные состояния. Сильная компенсация приводит к флуктуационным сужениям барьера, через которые протекает основной ток. Наличие локализованных состояний также облегчает подбарьерное движение электрона, поскольку оно может осуществляться короткими прыжками по этим состояниям. Рассмотрено совместное действие обоих механизмов и получено выражение для логарифма тока.



© МИАН, 2024