Аннотация:
В области температур ${1.6\div4.2}$ K
в кристаллах $n$-ZnSe изучалась зависимость электропроводности от напряженности
электрического поля в умеренно сильных электрических полях. Найдено, что
эффективная длина неомичности сравнима с длиной прыжка в омическом режиме или несколько
превышает ее. Сделано предположение, что в исследованных кристаллах имеет место
проводящая сетка с радиусом корреляции, превышающим длину прыжка в омическом режиме,
и что рост электропроводности с нолем связан в большей степени с изменением проводимости
ключевых сопротивлений, нежели с изменением путей протекания. Зависимость эффективной
длины неомичности от температуры указывает на существование
кулоновской щели в спектре плотности локализованных состояний.