RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1989, том 23, выпуск 5, страницы 780–786 (Mi phts3344)

Кинетика изменения концентрации структурных дефектов и их роль в рассеянии дырок в $p$-GaSb

А. Н. Баранов, Т. И. Воронина, Т. С. Лагунова, И. Н. Тимченко, З. И. Чугуева, В. В. Шерстнев, Ю. П. Яковлев


Аннотация: Исследованы коэффициент Холла, электропроводность, подвижность и магнитосопротивление в интервале температур 4.2$-$300 K в образцах $p$-GaSb с различным содержанием структурных дефектов, полученных жидкостной эпитаксией при изменении соотношения Ga и Sb в растворах-расплавах в присутствии нейтрального растворителя Рb. Изучено влияние этих дефектов на проводимость и рассеяние дырок.



© МИАН, 2024