Аннотация:
Исследована спектральная чувствительность эффекта
устойчивой фотопроводимости (УФП) в двойных селективно
легированных гетероструктурах GaAs/$n$-(Al, Ga) As.
Показано существование двух механизмов, которые вносят вклад в
УФП при низких температурах: 1) фотовозбуждение
$DX$-центров в легированном кремнием (Al, Ga)As : Si, 2) генерация
электронно-дырочных пар в нелегированном (Al, Ga)As
с последующим их разделением полем области объемного заряда
вблизи квантовой ямы.