Аннотация:
Для расплавов полупроводников на основе имеющихся
экспериментальных данных установлена линейная зависимость
между магнитной восприимчивостью $\chi$ и электропроводностью
$\sigma^{1/2}$ (${\chi=\pm c\pm B\sigma^{1/2}}$). Теоретически
показано, что это соотношение выполняется для металлов,
вырожденных полупроводников и расплавов, металлизующихся при плавлении.
Анализ полученного соотношения совместно с экспериментальными
данными по электропроводности и магнитной восприимчивости показали,
что зависимость плотности электронных состояний $N(\varepsilon)$
сильно отличается от $N_{0}(\varepsilon)$ нулевого
приближения теории свободных электронов, представляя собой кривую
с минимумом или кривую, имеющую точку перегиба вблизи энергии Ферми,
причем для каждого из рассмотренных случаев
${d\sigma/dT > 0}$, ${d\chi/dT >0}$ и ${d\sigma/dT<0}$, ${d\chi/dT>0}$
уровень Ферми лежит на убывающей ветви зависимости $N(\varepsilon)$ .
Установленная линейная взаимосвязь
${\chi=f(\sigma^{1/2}})$ позволяет сделать определенные выводы относительно
зависимости плотности электронных состояний в расплавах
исследованных веществ от энергии. Полученное соотношение носит, на наш
взгляд, фундаментальный характер и может быть использовано при анализе
экспериментальных данных по магнитной
восприимчивости и электропроводности и для других полупроводниковых
систем с вырожденным электронным газом, в частности
для аморфных и стеклообразных полупроводников.