Аннотация:
Исследованы низкотемпературная краевая фотолюминесценция,
плотность дислокаций и разностная концентрация
точечных дефектов в монокристаллах высокоомного арсенида
галлия, легированного индием. Показано, что легирование
GaAs индием приводит к уменьшению плотности дислокаций,
увеличению и стабилизации интенсивности краевого
рекомбинационного излучения и изменению интенсивностей
фотолюминесценции с участием мелких доноров и
акцепторов. Эти явления, в свою очередь, связаны с изменением
ансамбля собственных точечных дефектов в кристалле,
выражающемся, в частности, в изменении типа преобладающих
дефектов решетки с вакансионного на междоузельный.