Аннотация:
Показано, что известные эксперименты по исследованию
фликкерных шумов в полупроводниках при скрещенных электрическом
и магнитном полях не противоречат модели флуктуаций подвижности
носителей тока. Объяснение заключается в учете анизотропии рассеяния
носителей комплексами, имеющими несимметричную конфигурацию,
например парными дефектами. При этом среднестатистическое
значение подвижности остается скалярной величиной.