RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1989, том 23, выпуск 8, страницы 1434–1439 (Mi phts3487)

Спектроскопическое определение степени компенсации и концентрации примесей в высокочистом GaAs

С. Д. Барановский, Б. Л. Гельмонт, В. Г. Голубев, В. И. Иванов-Омский, А. В. Осутин


Аннотация: Показано, что из анализа температурной зависимости формы линии ${1s\to2p_{0}}$ фотовозбуждения мелких доноров, обусловленной переходом от коррелированного распределения электронов по примесям к полностью случайному, возможно определение раздельной концентрации доноров и акцепторов в GaAs.



© МИАН, 2024