Физика и техника полупроводников,
1989, том 23, выпуск 9,страницы 1572–1575(Mi phts3519)
Исследование центров фоточувствительности в инжекционных слоях CdSe
Ю. А. Черкасов, П. А. Буров, И. А. Давыдов, В. Г. Лучина, А. П. Одринский, А. И. Румянцев
Аннотация:
Методами спектроскопии поверхностной фотоэдс
и фотолюминесценции выполнены спектроскопические исследования центров
фоточувствительности тонких пленок CdSe регистрирующих систем типа инжекционный
сенсибилизатор–термопластик. Показано, что для пленок, выращенных в условиях, близких к условиям
роста монокристаллов (вакуумное испарение в квазизамкнутом объеме),
и обладающих высокой фоточувствительностью, центры фоточувствительности
могут быть отождествлены с $r$-центрами медленной рекомбинации с энергией
ионизации 1.26 эВ, отвечающими в монокристаллах за высокий квантовый выход
фотогенерации носителей заряда. Центры обусловлены вакансиями кадмия,
возникающими в результате термохимической сенсибилизации пленок CdSe
после их выращивания.