Аннотация:
Выполнен расчет спектра флуктуаций тока, текущего поперек
слоев легированной сверхрешетки, у которой толщины $n$- и $p$-слоев превышают
длину свободного пробега электронов и дырок. Рассмотрены три возможных
источника шума: излучательные, ударные и шокли-ридовские
генерационно-рекомбинационные процессы. Получена формула для частотной
характеристики вертикального фоторезистора на основе легированной сверхрешетки.