RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 1, страницы 77–81 (Mi phts3678)

Особенности поведения изовалентной примеси — индия при легировании арсенида галлия в процессе газофазовой эпитаксии из металлоорганических соединений

В. А. Быковский, Л. А. Иванютин, Т. И. Кольченко, В. М. Ломако, И. Н. Цыпленков, В. В. Чалдышев, Ю. В. Шмарцев


Аннотация: Методами низкотемпературной фотолюминесценции и нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней исследованы эпитаксиальные слои арсенида галлия, полученные газофазовой эпитаксией из металлоорганических соединений, легированные изовалентной примесью — индием. Обнаружено, что даже при весьма низкой концентрации индия ($<2\cdot 10^{19}$ см$^{-3}$) происходят заметные изменения концентраций мелких доноров и акцепторов, а также глубоких уровней. Полученные экспериментальные данные анализируются с учетом результатов предшествующих исследований изовалентного легирования арсенида галлия.



© МИАН, 2024