Аннотация:
Исследуются вольтамперные характеристики
\glqqкоротких» гетероструктур барьер$-$яма$-$барьер
с учетом разогрева и перераспределения носителей в яме.
Показано, что вольтамперная характеристика короткой
гетероструктуры может иметь $S$-образный вид в широком
интервале температур решетки полупроводника.