Электрофизические свойства сплавов Cu$_{2-x}$Se, легированных электроактивными добавками

Установлено, что легирующие добавки (In, Sb, Al, Sn, Zn, Er, Dy, Nd) изменяют концентрацию дырок $p$ в сплавах селенида меди Cu$_{2-x}$Se в соответствии с их валентностью.
Минимально достижимая в сплавах концентрация ${p\sim10^{18}\,\text{см}^{-3}}$ при комнатной температуре определяется эффектами самолегирования и слабо изменяется при введении легирующих добавок.
Температурные зависимости электрофизических свойств Cu$_{2-x}$Se качественно не изменяются при легировании, однако абсолютные значения подвижности дырок уменьшаются вследствие увеличения доли примесного рассеяния.