RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 5, страницы 821–824 (Mi phts3833)

Влияние отклонения от стехиометрии на свойства диффузионных $p{-}n$-переходов на основе карбида кремния

А. П. Андреев, Э. Е. Виолин, В. И. Левин, Ю. М. Таиров, В. Ф. Цветков, И. Е. Яременко


Аннотация: Приведены результаты исследования быстродействия, фоточувствительности в прямом смещении, а также параметров структуры карбид-кремниевых $p{-}n^{*}{-}n$-переходов, полученных диффузией бора в кристаллы с отклонением от стехиометрии. Обнаружена однозначная корреляция между фоточувствительностью в ближней ИК области спектра при ${\lambda\approx0.9}$ мкм и отклонением от стехиометрии. Обнаружено, что введение избыточных углеродных вакансий увеличивает инерционность $p{-}n^{*}{-}n$-структур, вероятно, вследствие модуляции заряда глубоких ловушек в базовой области.



© МИАН, 2024