Поведение центров золота в кремнии $n$-типа после нейтронного и $\gamma$-облучения и механической обработки поверхности

Методом нестационарной емкостной спектроскопии глубоких уровней (НЕСГУ) проведено исследование влияния нейтронного и $\gamma$-облучения и механической обработки поверхности на поведение центров золота в кремнии $n$-типа. Установлено, что нейтронное облучение дозой более $10^{14}\,\text{см}^{-2}$ и механическая обработка поверхности приводят к значительному уменьшению концентрации электрически активных центров золота в $n$-кремнии, а $\gamma$-облучение дозой до $10^{8}$ рад не изменяет их концентрации. На основании полученных результатов сделан вывод о том, что переход электрически активных центров золота в $n$-Si в электрически неактивное состояние обусловлен изменением их динамического поведения, связанного с воздействием полей упругих напряжений, возникающих в образцах после нейтронного облучения дозой ${>10^{14}\,\text{см}^{-2}}$ и механической обработки поверхности.