Аннотация:
Для различных направлений плоскости роста периодической
структуры относительно главных кристаллографических осей получены
соотношения, связывающие поляризацию (упругие деформации) в слоях сверхрешетки
с упругими (электрическими) силами, действующими в них. В зависимости
от величины наведенного пьезоэффектом электрического поля проведены оценки
относительного смещения нижних уровней размерного квантования в потенциальной
яме, образованной слоем In$_{0.1}$Ga$_{0.9}$As в GaAs. Проанализированы
связанные с эффектом параметрической модуляции характеристик системы
особенности поглощения высокочастотного излучения на частоте
межуровневых переходов.