Бифуркации удвоения периода и хаос в модели температурно-электрической неустойчивости в полупроводнике с двумя уровнями прилипания

Проведено численное исследование модели температурно-электрической неустойчивости в полупроводнике с двумя уровнями прилипания. Получены сложные регулярные и непериодические решения и цепочка бифуркаций удвоения периода, приводящая к возникновению хаоса. Достигнуто хорошее качественное и количественное соответствие с результатами эксперимента.