RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1990, том 24, выпуск 8, страницы 1363–1366 (Mi phts3950)

Понижение термической стабильности комплексов $V_{\text{As}}$Zn$_{\text{Ga}}$ в GaAs при нейтронном облучении

Е. В. Винник, К. Д. Глинчук, В. И. Гурошев, А. В. Прохорович


Аннотация: На основе тщательного анализа индуцированных нейтронным воздействием изменений в спектрах люминесценции $p$-GaAs(Zn) показано, что облучение кристаллов арсенида галлия быстрыми нейтронами приводит к сдвигу реакции термического разрушения комплексов $V_{\text{As}}$Zn$_{\text{Ga}}$ на изолированные компоненты $V_{\text{As}}$ и Zn$_{\text{Ga}}$ в сторону более низких температур прогрева. Наблюдаемый эффект объясняется понижением термической стабильности комплексов $V_{\text{As}}$Zn$_{\text{Ga}}$ вследствие уменьшения энергии связи компонентов комплекса из-за ассоциации последними подвижных радиационных дефектов.



© МИАН, 2024