Аннотация:
Изучено влияние дефектов, вводимых облучением осколками
деления $^{252}$Cf в кремнии с
уровнем легирования $10^{14}\div10^{18}$ см$^{-3}$,
на рекомбинацию неосновных носителей заряда.
Показано, что изменение времени жизни носителей
при облучении определяется в основном
введением областей скоплений дефектов.
С использованием параметров для областей скоплений
дефектов, полученных из данных емкостной спектроскопии,
описана зависимость поведения коэффициента радиационного
изменения времени жизни неосновных носителей заряда
от уровня легирования.