Аннотация:
При $T{=}2$ K и в магнитном поле до 7.5 Т выполнено исследование
осциллирующего магнитопоглощения в эпитаксиальных слоях In$_{1-x}$Ga$_{x}$As,
выращенных на подложке из InP. Измерения, проведенные на напряженных слоях
и слоях с удаленной подложкой (свободных), позволили установить эффективные
массы электрона и другие параметры зонной структуры слоев, а также рассчитать
зависимость $m^{*}_{c}$ на дне зоны проводимости от состава ($x$)
и напряжений ($e$). При этом можно выделить влияние части, обусловленной
несоответствием решеток ($\Delta a_{\perp}/a_{\parallel}$) и однозначно
связанной с составом, так же как составляющую, зависящую от остаточных
напряжений $e_{0}$ и включающую в себя ростовые напряжения и напряжения,
связанные с различием в коэффициентах термического расширения.