Аннотация:
Совместно методами ультрамягкой рентгеновской эмиссионной
спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (РФЭС)
получены композиционные зависимости энергетического положения
потолка валентной зоны $E_{v}(x)$ и главного максимума спектра валентных
$5p$-электронов теллура в твердых растворах
(In$_{2}$Te$_{3})_{x}{-}$(HgTe)$_{1-x}$. Установлено, что в этой системе в области ${x<0.1}$ наблюдается
резкий сдвиг в положении особых точек, в том числе
и $E_{v}$ в сторону больших энергий связи. Подобное поведение $E_{v}(x)$
объясняется влиянием $d$-электронов ртути и стехиометрических вакансий.
Наличие последних позволяет объяснить различный характер поведения
$E_{v}(x)$ в системах Cd$_{x}$Hg$_{1-x}$Te
и (In$_{2}$Te$_{3})_{x}{-}$(HgTe)$_{1-x}$.