Аннотация:
Изучалась кинетика изменения высоты потенциальных
барьеров (движения поверхностного уровня Ферми
относительно краев разрешенных зон) на поверхности
$n$- и $p$-GaAs (100)
при обработке в водных растворах сульфида натрия.
Изменение высоты определялось оптическим методом,
основанным на эффекте поляризационной анизотропии отражения. Установлено, что в процессе обработки поверхности как $n$-, так
и $p$-GaAs уровень Ферми
сначала смещается к потолку валентной зоны до положения
$E_{v}+0.3$ эВ, а затем возвращается
в практически исходное положение. Кинетика
движения поверхностного уровня Ферми существенно
зависит от типа проводимости GaAs
(скорость смещения для $n$-типа на 1.5$-$2 порядка выше,
чем для $p$-типа), а также зависит от степени легирования
полупроводника и концентрации ионов серы в растворе. Показано, что обработка в растворе сульфида натрия
позволяет увеличить высоту
потенциального барьера на поверхности n-GaAs до 1.1 эВ,
а на поверхности $p$-GaAs уменьшить ее до 0.3 эВ.