RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1992, том 26, выпуск 2, страницы 352–357 (Mi phts4592)

Влияние ионной имплантации компенсирующей примеси на оптические свойства $n^{+}$-GaAs

Е. Ф. Венгер, А. В. Гончаренко, Н. Л. Дмитрук, А. Ю. Прокофьев, Н. А. Фидря

Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, г. Киев

Аннотация: Рассмотрены спектры отражения и дисперсия поверхностных плазмон-фононных поляритонов сильно легированного арсенида галлия $n$-типа, подвергнутого бомбардировке компенсирующими ионами O$^{+}$. Путем решения оптимизационной задачи из спектров отражения в принятом одноступенчатом приближении определены параметры имплантированного слоя, обнаружено расхождение полученных значений глубины имплантированного слои с теорией Линдхарда$-$Шарфа$-$Шиотта. Достигнуто хорошее соответствие результатов, полученных из спектров внешнего ИК отражения света и дисперсионных зависимостей поверхностных лоляритонов при полной компенсации заряда в имплантированном слое.

Поступила в редакцию: 25.02.1991
Принята в печать: 16.09.1991



© МИАН, 2025