Аннотация:
Обнаружены взаимосвязанные эффекты тушения и регенерации
фотопроводимости в кремнии $n$- и $p$-типа, легированном цинком.
Полученные результаты объясняются в рамках модели глубокого
дефекта с немонотонной зависимостью константы электрон-колебательного
взаимодействия от числа электронов на центре. Показано, что тушение и
регенерация фотопроводимости обусловлены долговременными процессами
перезарядки двойного акцептора цинка, сопровождающимися его туннелированием
между позициями разной симметрии в решетке кремния. Определена роль эффекта
Штарка в динамике туннелирования изолированного центра цинка,
которая управляет рекомбинацией
неравновесных носителей в монокристаллах кремния.