RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1992, том 26, выпуск 9, страницы 1612–1624 (Mi phts4797)

Исследование структурных дефектов в эпитаксиальных слоях арсенида индия

А. Н. Баранов, Т. И. Воронина, А. А. Гореленок, Т. С. Лагунова, А. М. Литвак, М. А. Сиповская, С. П. Старосельцева, В. А. Тихомирова, В. В. Шерстнев

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Исследованы электрические и фотоэлектрические свойства эпитаксиальных слоев арсенида индия. Показано, что использование свинца в качестве нейтрального растворителя при выращивании эпитаксиальных слоев арсенида индия позволяет уменьшить концентрацию примесей и структурных дефектов и получить как более чистые слои (при 77 K концентрация электронов ${\sim5\cdot10^{16}}$ см$^{-3}$, подвижность ${\sim3\cdot10^{4}\,\text{см}^{2}/\text{В}\cdot\text{с}}$), так и полуизолирующие слои (при 77 K концентрация ${\sim10^{15}}$ см$^{-3}$, подвижность ${\sim4\cdot10^{3}\,\text{см}^{2}/\text{В}\cdot\text{с}}$). Определен энергетический спектр примесей и дефектов (энергии ионизации донорных уровней — ${E_{D}=0.002}$, $0.01\div0.02$, $0.1\div0.2$ эВ, акцепторного — ${E_{A}=0.05}$ эВ). Изучены механизм рассеяния и характер распределения центров рассеяния.

Поступила в редакцию: 24.03.1992
Принята в печать: 26.03.1992



© МИАН, 2025