RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 1992, том 26, выпуск 10, страницы 1795–1800 (Mi phts4827)

Влияние спейсер-слоев на вольт-амперную характеристику туннельно-резонансных диодов

А. С. Игнатьев, В. Э. Каминский, В. Б. Копылов, В. Г. Мокеров, Г. 3. Немцев, С. С. Шмелев, В. С. Шубин


Аннотация: Изготовлены туннельно-резонансные диоды со спейсер-слоями и слабо легированным буферным слоем. На измеренных при 77 и 300 K ВАХ получены особенности в области отрицательной дифференциальной проводимости. Показано, что эти особенности связаны с протеканием тока по размерно-квантованным уровням в потенциальной яме спейсер-слоя, а не с самовозбуждением. В результате решения самосогласованной системы уравнений Шредингера и Пуассона получены зависимости глубины потенциальной ямы и уровней энергии в ней от напряжения на диоде и показано, что максимумы тока на ВАХ реализуются при совпадении резонансного уровня с дном зоны проводимости или уровнями размерного квантования.



© МИАН, 2024