Аннотация:
Методом численного моделирования найдено неравновесное
распределение дефектов по энергиям колебаний, устанавливающееся
в стационарных условиях за счет многофононной рекомбинации
электронно-дырочных пар. При этом предполагается, что концентрация
неравновесных носителей контролируется внешним источником возбуждения
и рекомбинационными процессами (включая в себя излучательные и оже-процессы).
Показано, что в полупроводнике $n$-типа при увеличении концентрации
неравновесных дырок экспоненциально нарастает «хвост» функции
распределения, что в эксперименте может проявиться как уменьшение энергии
активации при рекомбинационно-стимулированном отжиге дефектов.