RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 11, страницы 1040–1044 (Mi phts4939)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Оптические и структурные свойства эпитаксиальных слоев Hg$_{0.7}$Cd$_{0.3}$Te

Д. А. Андрющенкоa, М. С. Ружевичa, А. М. Смирновa, Н. Л. Баженовb, К. Д. Мынбаевb, В. Г. Ремесникc

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
c Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск

Аннотация: Приводятся результаты сравнительных исследований оптических и структурных свойств объемных кристаллов и эпитаксиальных пленок Hg$_{0.7}$Cd$_{0.3}$Te, выращенных различными методами. Данные исследований фотолюминесценции образцов в диапазоне температур 4.2–300 K показали схожесть их оптических свойств и указывали на существенное разупорядочение твердого раствора. По данным рентгеновской дифракции, однако, масштаб разупорядочения не был напрямую связан со структурным качеством материала. Обсуждены перспективы использования материала, выращенного различными методами, в приложениях оптоэлектроники.

Ключевые слова: HgCdTe, дефекты, люминесценция, рентгеновская дифракция.

Поступила в редакцию: 31.05.2021
Исправленный вариант: 06.06.2021
Принята в печать: 06.06.2021

DOI: 10.21883/FTP.2021.11.51558.9689



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024