RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 10, страницы 877–881 (Mi phts4956)

Эта публикация цитируется в 3 статьях

XXV Международный симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 9-12 марта 2021 г.

Замещение фосфора на поверхности InP(001) при отжиге в потоке мышьяка

Д. В. Дмитриевa, Д. А. Колосовскийab, Е. В. Федосенкоa, А. И. Тороповa, К. С. Журавлевab

a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет

Аннотация: Методом дифракции быстрых электронов на отражение in situ изучено изменение структуры и элементного состава поверхности epi-ready InP(001) подложки в потоке мышьяка в сверхвысоком вакууме. Показано, что в процессе отжига окисного слоя на поверхности формируется слой InP$_{1-x}$As$_{x}$, возникающий в процессе замещения фосфора мышьяком. Установлена зависимость степени замещения от температуры и времени отжига. При температуре отжига 480$^\circ$С степень замещения фосфора мышьяком в приповерхностном слое составляет 7%, при температуре 540$^\circ$С достигает 41%. Время отжига слабо влияет на степень замещения.

Ключевые слова: фосфид индия, мышьяк, отжиг, замещение, дифракция.

Поступила в редакцию: 12.04.2021
Исправленный вариант: 19.04.2021
Принята в печать: 19.04.2021

DOI: 10.21883/FTP.2021.10.51437.36


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:11, 823–837


© МИАН, 2024