RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 8, страницы 699–703 (Mi phts5004)

Эта публикация цитируется в 2 статьях

Физика полупроводниковых приборов

Инфракрасные (850 нм) светодиоды с множественными квантовыми ямами InGaAs и “тыльным” отражателем

А. В. Малевскаяa, Н. А. Калюжныйa, Д. А. Малевскийa, С. А. Минтаировa, А. М. Надточийb, М. В. Нахимовичa, Ф. Ю. Солдатенковa, М. З. Шварцa, В. М. Андреевa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики» (Санкт-Петербургский филиал)

Аннотация: Поведены исследования инфракрасных светодиодов (длина волны 850 нм) на основе гетероструктур AlGaAs/GaAs, изготовленных методом МОС-гидридной эпитаксии и имеющих множественные квантовые ямы InGaAs в области, генерирующей излучение. Разработаны постростовые приемы по удалению подложки GaAs и переносу гетероструктуры на инородный носитель с оптическим отражателем. Оптимизированы технологические режимы изготовления отражателя, и достигнуто увеличение коэффициента отражения инфракрасного излучения до 92–93%. Изготовлены светодиоды с внешней квантовой эффективностью 28.5%.

Ключевые слова: светодиод, гетероструктуры AlGaAs/GaAs, квантовые ямы InGaAs, текстурирование, отражатели.

Поступила в редакцию: 09.04.2021
Исправленный вариант: 19.04.2021
Принята в печать: 19.04.2021

DOI: 10.21883/FTP.2021.08.51143.9665


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:8, 686–690

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024