RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 1, страницы 28–31 (Mi phts5093)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Тонкопленочные барорезисторы на основе твердых растворов Sm$_{1-x}$Gd$_{x}$S

В. В. Каминскийa, С. М. Соловьевa, Н. Н. Степановa, Г. А. Каменскаяa, Г. Д. Хавровab, С. Е. Александровb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Исследовано влияние концентрации Gd на температурный и барический коэффициенты электросопротивления тонких поликристаллических пленок твердых растворов системы Sm$_{1-x}$Gd$_{x}$S, где $x$ = 0, 0.05, 0.1, 0.2, 0.33 и 0.5. Пленки изготовлены методом взрывного испарения в вакууме порошков исходных соединений и седиментацией последних из газовой фазы на стеклянные подложки. Получены зависимости температурного $\alpha$ и барического $\beta$ коэффициентов электросопротивления, а также их отношения $\gamma$ от концентрации $x$ Gd в системе твердых растворов SmS–GdS, на основании которых определены оптимальные составы для изготовления тонкопленочных тензо- и барорезисторов.

Ключевые слова: тензо- и барорезистор, содержание Sm и Gd, моносульфид самария, температурный и барический коэффициенты электросопротивления.

Поступила в редакцию: 01.06.2020
Исправленный вариант: 07.09.2020
Принята в печать: 14.09.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.01.50380.9440


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:1, 25–27

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024