RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2021, том 55, выпуск 1, страницы 75–82 (Mi phts5099)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Физика полупроводниковых приборов

Мощные диоды Шоттки с участком отрицательного дифференциального сопротивления на вольт-амперной характеристике

А. Г. Тандоев, Т. Т. Мнацаканов, С. Н. Юрков

Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт», Москва, Россия

Аннотация: Показано, что при больших плотностях тока, превышающих некоторую величину $j_{st1}$, в базовой области диодов Шоттки наряду с диффузионным режимом переноса осуществляется так же режим диффузии, стимулированной квазинейтральным дрейфом. Было исследовано влияния этого недавно обнаруженного режима на вид вольт-амперных характеристик диодов Шоттки при больших плотностях тока. Показано, что в случае, когда величина отношения ширины базовой области к амбиполярной диффузионной длине становится больше единицы, на вольт-амперной характеристике появляется участок с отрицательным дифференциальным сопротивлением. Результаты аналитического исследования были проверены и подтверждены с помощью численного моделирования.

Ключевые слова: режимы переноса носителей заряда в полупроводниках, мощные диоды Шоттки, вольт-амперная характеристика, влияние режимов переноса носителей на характеристики мощных структур.

Поступила в редакцию: 09.09.2020
Исправленный вариант: 14.09.2020
Принята в печать: 18.09.2020

DOI: 10.21883/FTP.2021.01.50390.9521


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2021, 55:1, 92–99

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024