Аннотация:
Разработан метод анализа модификации спонтанного излучения в структурах с цилиндрической симметрией. Выведен метод матриц рассеяния для цилиндрических структур. На основе матриц рассеяния получены правила квантования электромагнитного поля ($S$-квантование) в цилиндрических системах. Получены общие выражения для темпа излучательной рекомбинации эмиттера, находящегося в произвольной точке структуры. Выведены количественные показатели, дающие оценку усилению и подавлению излучательной рекомбинации, которые могут рассматриваться как модовые факторы Парселла. Получено выражение для суммарного фактора Парселла для излучения в направлении, перпендикулярном оси симметрии среды, а также выражение для интегрального (полного) фактора Парселла для эмиттера на оси симметрии.
Ключевые слова:нанофотоника, спонтанная излучательная рекомбинация, эффект Парселла.
Поступила в редакцию: 16.12.2019 Исправленный вариант: 20.02.2019 Принята в печать: 20.02.2019