RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 7, страницы 654–662 (Mi phts5208)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Метод матриц рассеяния для расчета спонтанной излучательной рекомбинации в структурах с цилиндрической симметрией

В. В. Николаевa, К. А. Ивановbc, К. М. Морозовbc, А. В. Белоновскийd

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
c Санкт-Петербургский национальный исследовательский академический университет имени Ж. И. Алфёрова Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
d Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет Российской академии наук;Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики (Университет ИТМО)

Аннотация: Разработан метод анализа модификации спонтанного излучения в структурах с цилиндрической симметрией. Выведен метод матриц рассеяния для цилиндрических структур. На основе матриц рассеяния получены правила квантования электромагнитного поля ($S$-квантование) в цилиндрических системах. Получены общие выражения для темпа излучательной рекомбинации эмиттера, находящегося в произвольной точке структуры. Выведены количественные показатели, дающие оценку усилению и подавлению излучательной рекомбинации, которые могут рассматриваться как модовые факторы Парселла. Получено выражение для суммарного фактора Парселла для излучения в направлении, перпендикулярном оси симметрии среды, а также выражение для интегрального (полного) фактора Парселла для эмиттера на оси симметрии.

Ключевые слова: нанофотоника, спонтанная излучательная рекомбинация, эффект Парселла.

Поступила в редакцию: 16.12.2019
Исправленный вариант: 20.02.2019
Принята в печать: 20.02.2019

DOI: 10.21883/FTP.2020.07.49506.9336


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:7, 765–773

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024