RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2020, том 54, выпуск 3, страницы 305–309 (Mi phts5269)

Эта публикация цитируется в 9 статьях

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Получение тонких пленок теллурида висмута на полиимидных подложках методом импульсного лазерного осаждения

А. Е. Шупенев, И. С. Коршунов, А. Г. Григорьянц

Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана

Аннотация: В настоящей работе сообщается об особенностях получения тонких термоэлектрических пленок $p$-Bi$_{0.5}$Sb$_{1.5}$Te$_{3}$ и $n$-Bi$_{2}$Te$_{2.7}$Se$_{0.3}$ с характерной толщиной $\sim$300 нм на полиимидном материале методом импульсного лазерного осаждения. Рассмотрено влияние температуры роста, давления и расстояния между мишенью и подложкой на свойства пленок. Достигнуты высокие значения коэффициента Зеебека 220 и -200 мкВ/К, но факторы электрической мощности для пленок $p$- и $n$-типа составили 9.7 и 5.0 мкВт/см $\cdot$ K$^{2}$ соответственно из-за достаточно высоких сопротивлений пленок.

Ключевые слова: тонкие пленки, импульсное лазерное осаждение, термоэлектрический эффект, теллурид висмута, полиимид.

Поступила в редакцию: 25.06.2019
Исправленный вариант: 07.11.2019
Принята в печать: 07.11.2019

DOI: 10.21883/FTP.2020.03.49038.9196


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2020, 54:3, 378–382

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024