RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 12, страницы 1733–1739 (Mi phts5344)

Эта публикация цитируется в 1 статье

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Твердые растворы In$_{x}$Al$_{1-x}$N: проблемы стабильности состава

В. Н. Брудный, М. Д. Вилисова, Л. Э. Великовский

Национальный исследовательский Томский государственный университет

Аннотация: Проанализированы фазовые диаграммы и условия выращивания твердых растворов In$_{x}$Al$_{1-x}$N методами магнетронного распыления, молекулярно-лучевой эпитаксии и газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений. Взаимная равновесная растворимость в широкой области составов толстых слоев данного раствора близка к нулю. При этом наличие упругих напряжений несоответствия для тонких слоев In$_{x}$Al$_{1-x}$N сужает нестабильную область смешиваемости. Оптимизация условий выращивания позволяет получить однородные гомогенные слои In$_{x}$Al$_{1-x}$N высокого качества, пригодные для производства барьерного слоя в InAlN/GaN – транзисторах с высокой подвижностью электронов.

Ключевые слова: твердый раствор In$_{x}$Al$_{1-x}$N, фазовые диаграммы, зона несмешиваемости, фазовый распад, упругие напряжения несоответствия.

Поступила в редакцию: 08.08.2019
Исправленный вариант: 12.08.2019
Принята в печать: 12.08.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.12.48636.9239


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:12, 1724–1730

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024