RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 8, страницы 1086–1094 (Mi phts5434)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Энергетические затраты при формировании упругонапряженного состояния в слоях ступенчатого метаморфного буфера в гетероструктуре, выращенной на подложке (001) GaAs

А. Н. Алешинa, А. С. Бугаевa, О. А. Рубанa, В. В. Сарайкинa, Н. Ю. Табачковаb, И. В. Щетининb

a Институт сверхвысокочастотной полупроводниковой электроники им. В. Г. Мокерова РАН, г. Москва
b Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС", г. Москва

Аннотация: На основе данных рентгеноструктурного анализа, выполненного методом построения карт обратного пространства, а также исследований с применением вторично-ионной масс-спектрометрии и просвечивающей электронной микроскопии показано, что в многослойной эпитаксиальной гетероструктуре, содержащей метаморфный ступенчатый буфер, наряду с латеральными сжимающими напряжениями возникают также и вертикальные сжимающие напряжения. Причиной появления вертикальных напряжений является эффект межслоевого упрочнения, возникающий из-за торможения фрагментов скользящих дислокаций межфазными границами. Выполненный в рамках линейной теории упругости анализ показал, что упругонапряженное состояние ступеней буфера аналогично состоянию, которое может быть достигнуто в результате двухстадийного деформационного процесса: всестороннего и двухосного сжатия. Всестороннее сжатие приводит к большим энергетическим затратам при формировании структуры ступеней буфера, что отражается, в частности, в нарушении когерентности сочленения бездислокационного с нижележащим слоем.

Ключевые слова: гетероструктура, метаморфный буфер, сжимающие напряжения, двухстадийный деформационный процесс, энергетические затраты.

Поступила в редакцию: 04.04.2019
Исправленный вариант: 12.04.2019
Принята в печать: 12.04.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.08.48000.9129


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:8, 1066–1074

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024