RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика и техника полупроводников // Архив

Физика и техника полупроводников, 2019, том 53, выпуск 6, страницы 731–735 (Mi phts5471)

XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.

Влияние неидеальности геометрической формы образца на неопределенность измерений теплопроводности методом лазерной вспышки

А. В. Асачa, Г. Н. Исаченкоab, А. В. Новотельноваa, В. Е. Фоминa, К. Л. Самусевичa, И. Л. Тхоржевскийa

a Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург

Аннотация: Проведено исследование влияния геометрической формы образцов на неопределенность измерений коэффициента теплопроводности материалов методом лазерной вспышки. Методом математического моделирования в программной среде Comsol Multiphysics создана модель, имитирующая процесс измерения методом лазерной вспышки коэффициента теплопроводности образцов, выполненных из графита, Mg$_{2}$Si$_{0.4}$Sn$_{0.6}$ и теллурида висмута. Исследованы образцы цилиндрической формы с плоскопараллельными сторонами и образцы в виде усеченного цилиндра, а также образцы в виде параллелепипеда с квадратным основанием. Показано, что для образцов с плоскопараллельными сторонами и размером до 12.7 мм неопределенность измерений не превышает 2%. Для образцов в форме усеченного цилиндра диаметром 3 мм и при угле скоса $\varphi$=1.5$^\circ$ неопределенность измерения не превышает 3%. С увеличением диаметра образца и угла $\varphi$ неопределенность измерений существенно возрастает.

Поступила в редакцию: 07.02.2019
Исправленный вариант: 10.02.2019
Принята в печать: 14.02.2019

DOI: 10.21883/FTP.2019.06.47717.26


 Англоязычная версия: Semiconductors, 2019, 53:6, 723–726

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025